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BRAND / VENDOR: Agilent

Agilent, 3610007300, Cono de preóptica para ICP-OES axial de la serie Agilent Vista/700

CATALOG NUMBER: 3610007300
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Product Description

Cono de preóptica para ICP-OES axial de la serie Agilent Vista/700

Presupuesto:
Compatibilidad de instrumentos: Serie 700 Serie Vista
Código UNSPSC: 41115411
Ángulo de visión: axial

**********La siguiente descripción del producto es generada por IA y es solo de referencia. Si tiene alguna pregunta, póngase en contacto con el servicio de atención al cliente.**********
El cono preóptico está diseñado como un componente crítico para mejorar el rendimiento de los sistemas ICP-OES de espectrometría de emisión óptica con plasma acoplado inductivamente axial, específicamente compatible con los instrumentos Agilent Vista y de la serie 700. Diseñado para optimizar la definición de la zona de visualización del plasma, este componente garantiza una transmisión de luz precisa y resultados analíticos consistentes en una amplia gama de elementos. Al refinar la captura de señales antes de su entrada en la trayectoria óptica del espectrómetro, el dispositivo contribuye a una mayor sensibilidad y una reducción del fondo, lo que facilita la detección fiable de metales traza en matrices complejas.

Este componente se utiliza ampliamente en laboratorios analíticos que realizan investigaciones ambientales, farmacéuticas, de seguridad alimentaria y de ciencia de materiales, donde se requiere un alto rendimiento y una rigurosa calidad de datos. Su fácil instalación y su robusta construcción minimizan el tiempo de inactividad, lo que lo hace ideal para flujos de trabajo rutinarios y de alta demanda. Se logra un rendimiento óptimo al utilizarse junto con antorchas, sistemas de introducción de muestras y otros accesorios de manipulación de muestras originales de Agilent.

Al mantener la posición y la limpieza correctas del cono preóptico, los usuarios pueden garantizar la longevidad y la precisión constante de sus mediciones ICP-OES. Ideal para laboratorios especializados en análisis de elementos traza, este dispositivo ayuda a mantener un rendimiento robusto del instrumento y la integridad de los datos en todas las aplicaciones.


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