Perkin Elmer, N8150037, Kit de introducción de muestra SMARTintro, Configuración de semiconductores - Blanco

PerkinElmer presenta la tecnología de introducción de muestras ICP-MS 2000 de alta pureza, lista para solución. Diseñado para el análisis en la industria de semiconductores, este sistema de alto rendimiento utiliza una cámara de pulverización de cuarzo SilQ de ultraalta pureza, una antorcha y un inyector para minimizar la contaminación y ofrecer una precisión absoluta.

Este kit incluye:

• Nebulizador PFA ST3 tipo C (N8152378)
• Cámara de pulverización de alta sensibilidad SilQ Cyclonic C3 (N8152424)
• Inyector de una pieza con diámetro interior de 2,0 mm y antorcha SilQ (N8152428)
• Accesorio de espiga CTFE hembra (N8145018)
• Kit de tubos de inicio PeriPump (N8150060)
• Disco protector de luz de antorcha (N8152377)
• Sistema de cámara de pulverización ciclónica Peltier PC ^3X (N8152382)
• PFA-ST - Conexión en T para adición de patrón interno (N8152423)
• Cámara de pulverización ciclónica/casete con protección UV (N8152425)
• Casete de antorcha blanca (N8152432)
• Herramienta de extracción de tuercas del inyector de soplete (N8152443)
• Tuerca del inyector de la antorcha (N8152451)
• Sonda de estándar interno, cantidad 2 (N8152452)
• Línea de introducción de muestras de 0,5 mm de diámetro interior para nebulizador PFA-ST (N8152455)
• Tubo de drenaje de PTFE de 0,8 mm de diámetro interior con conexión de 1/4-28 (N8152456)
• Protector de luz para cámara de pulverización PC ³ (N8152475)

compatibilidad: NexION 2000; NexION 1000, Material: SilQ, grupo_de_productos: Kits de introducción de muestra